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立式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)

簡(jiǎn)要描述：立式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)是用來(lái)做工業(yè)產(chǎn)品恒定溫濕度試驗(yàn)用的，所以也可以叫小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱。它們的特點(diǎn)是體型小，功率小、耗電量小等優(yōu)勢(shì)。只是美中不足的地方就是不可以放大件的試驗(yàn)樣品。只針對(duì)小型或者細(xì)小型或者中小型的工業(yè)產(chǎn)品使用。目前愛(ài)佩公司生產(chǎn)的小型恒溫恒濕箱、小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱Z小的容積為80L內(nèi)箱尺寸為：寬40cm,高50cm,深40cm；溫度范圍可選擇：

  • 產(chǎn)品型號(hào)
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024-08-04
  • 訪  問(wèn)  量2080

詳細(xì)介紹

品牌愛(ài)佩科技/A-PKJ
　　立式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
 
　　一、使用環(huán)境條件：盡量保證環(huán)境溫度在+25℃左右，zui高不超過(guò)35度，空載(部份參數(shù)依備注)無(wú)試樣時(shí)。
 
　　二、溫度均勻度：      ±2℃
 
　　三、顯示精度：        ±0.01℃；
 
　　四、溫度波動(dòng)度：      ±0.5℃；
 
　　五、溫度偏差：        ≤±2.0℃；
 
　　七、升溫速率：        平均3℃/min(從+25℃升到+150℃約30min、非線性空載)；
 
　　八、降溫速率：        平均1℃/min(從+25℃降到-40℃約60min、非線性空載)；
 
　　九、升降溫過(guò)沖：      ≤±2.0℃；
 
　　十、負(fù)載：        無(wú)；
 
　　十一、恒定zui大發(fā)熱負(fù)載：無(wú)；
 
　　十二、噪音：            ≤65dB(A 聲級(jí))
 
　　立式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)是用來(lái)做工業(yè)產(chǎn)品恒定溫濕度試驗(yàn)用的，所以也可以叫小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱。它們的特點(diǎn)是體型小，功率小、耗電量小等優(yōu)勢(shì)。只是美中不足的地方就是不可以放大件的試驗(yàn)樣品。只針對(duì)小型或者細(xì)小型或者中小型的工業(yè)產(chǎn)品使用。目前愛(ài)佩公司生產(chǎn)的小型恒溫恒濕箱、小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱zui小的容積為80L內(nèi)箱尺寸為：寬40cm,高50cm,深40cm；溫度范圍可選擇：0℃/-20℃/-40℃/-60℃/-70℃~150度；濕度20%~98%。
 
　　特點(diǎn)：
 
　　一、小巧型設(shè)計(jì)，噪聲小，輕巧緊湊，外形美觀，機(jī)身小內(nèi)容積大，外型不占空間，適合辦公室使用。
 
　　二、：箱體內(nèi)膽材料采用進(jìn)口優(yōu)質(zhì)不銹鋼(SUS304)，具有良好的低溫強(qiáng)度、耐蝕性、耐熱性和機(jī)械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象(無(wú)磁性，使用溫度-196℃～800℃)，外箱采用優(yōu)質(zhì)鋼板噴塑烤漆。
 
　　三、采用三元TEMI880微電腦溫濕度控制器，觸摸屏操作方式，中英文畫面可切換，*由微電腦自動(dòng)控制鎖定，控溫控濕精確可靠。
 
　　四、大型觀測(cè)窗口采用雙層玻璃，附照明燈，方便隨時(shí)清晰觀測(cè)箱內(nèi)試驗(yàn)狀況。
 
　　五、9組PID控制參數(shù)設(shè)定，具有PID值自動(dòng)演算功能，zui大120組程序容量，999次循環(huán)設(shè)定。
 
　　六、設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過(guò)限制溫度即自動(dòng)中斷，缺水提示報(bào)警、防干燒報(bào)警、保證試驗(yàn)過(guò)程安全運(yùn)行。
 
　　執(zhí)行與滿足的標(biāo)準(zhǔn)：
 
　　GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
 
　　GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。
 
　　GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
 
　　GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
 
　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
 
　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
 

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