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首頁 > 產品中心 > 高低溫試驗室 > 高低溫測試機 > AP-GD攝像頭溫控老化箱|高低溫控試驗箱

攝像頭溫控老化箱|高低溫控試驗箱

簡要描述:攝像頭溫控老化箱|高低溫控試驗箱用途:該系列設備廣泛用于比較細小的電子、電工產品、如小的工業(yè)原材料、小型的零部件、或者小型的成品如手機或者其它產品的耐低溫試驗或者耐低溫儲存。

  • 產品型號AP-GD
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024-08-05
  • 訪  問  量940

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ

攝像頭溫控老化箱|高低溫控試驗箱用途:該系列設備廣泛用于比較細小的電子、電工產品、如小的工業(yè)原材料、小型的零部件、或者小型的成品如手機或者其它產品的耐低溫試驗或者耐低溫儲存。 
攝像頭溫控老化箱|高低溫控試驗箱擁有以下特點:
1.(BTHC)平衡調溫調控制系統(tǒng),高低溫循環(huán)實驗與測試以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的給車載導航儀做恒溫實驗與測試使用。
2.為車載導航儀做全新*的造型設計,外觀高質感水平,系統(tǒng)提取、*技術之精華設計制造。
3.愛佩采用全毛細管,自動負載容量調整系統(tǒng)技術,較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,溫度控制精確,升降溫速度*國家標準、性能穩(wěn)定、均勻度佳、波動度小, 為用者節(jié)約成本關帶來高效率的測試工作。
技術指標:
技術參數(shù): 
1.使用環(huán)境條件:盡量保證環(huán)境溫度在+25℃左右,zui高不超過35度,空載(部份參數(shù)依備注)無試樣時。
2.溫度均勻度:±2℃
3.顯示精度:±0.01℃;
4.溫度波動度:±0.5℃;
5.溫度偏差:≤±2.0℃; 
6.升溫速率:平均3℃/min(從+25℃升到+150℃約30min、非線性空載);
7.降溫速率:平均1℃/min(從+25℃降到-40℃約60min、非線性空載);
8.升降溫過沖:≤±2.0℃;
9.zui大負載:無;
10.恒定zui大發(fā)熱負載:無;
11.噪音:≤70dB(A 聲級)
執(zhí)行與滿足的標準:
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》;
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;

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